Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Bücher - Taylor & Francis Ltd - 9780415531955 - 27. Juni 2014
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Applied Measurement with jMetrik 1. Ausgabe

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

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Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 27. Juni 2014
ISBN13 9780415531955
Verlag Taylor & Francis Ltd
Seitenanzahl 170
Maße 152 × 229 × 15 mm   ·   362 g
Sprache Englisch  

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