Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Bücher - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - 2. Dezember 1987
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

Preis
Fr. 236,49

Bestellware

Lieferdatum: ca. 9. - 18. Dez
Weihnachtsgeschenke können bis zum 31. Januar umgetauscht werden

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 2. Dezember 1987
ISBN13 9780471624639
Verlag John Wiley & Sons Inc
Seitenanzahl 368
Maße 165 × 240 × 23 mm   ·   610 g

Alle Titel von Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) ansehen ( u. a. Gebundenes Buch )