Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Bücher - Cambridge University Press - 9780521482660 - 23. Mai 1996
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 23. Mai 1996
ISBN13 9780521482660
Verlag Cambridge University Press
Seitenanzahl 458
Maße 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg

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