Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy - Nigel D Browning - Bücher - Cambridge University Press - 9780521554909 - 6. Juli 2000
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Nigel D Browning

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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.

406 pages, 267 b/w illus. 3 tables

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 6. Juli 2000
ISBN13 9780521554909
Verlag Cambridge University Press
Seitenanzahl 406
Maße 170 × 244 × 24 mm   ·   1,13 kg
Redakteur Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago)
Redakteur Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee)

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