![Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II - Gianfranco Pacchioni - Bücher - Springer - 9780792366867 - 31. Dezember 2000](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/867/9780792366867.jpg?gianfranco-pacchioni-2000-defects-in-sio2-and-related-dielectrics-science-and-technology-nato-science-series-ii-taschenbuch&class=scaled&v=1613567652)
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
Erscheinungsdatum | 31. Dezember 2000 |
ISBN13 | 9780792366867 |
Verlag | Springer |
Seitenanzahl | 624 |
Maße | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
Sprache | Englisch |
Redakteur | Griscom, David L. |
Redakteur | Pacchioni, Gianfranco |
Redakteur | Skuja, Linards |
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