Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Bücher - Springer - 9780792390589 - 31. Dezember 1989
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

Debashis Bhattacharya

Preis
Fr. 105,99

Bestellware

Lieferdatum: ca. 2. - 11. Dez
Weihnachtsgeschenke können bis zum 31. Januar umgetauscht werden

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.

160 pages, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 31. Dezember 1989
ISBN13 9780792390589
Verlag Springer
Seitenanzahl 160
Maße 155 × 235 × 11 mm   ·   426 g
Sprache Englisch  
Alle anzeigen

Weitere Titel von Debashis Bhattacharya

Alle Titel von Debashis Bhattacharya ansehen ( u. a. Gebundenes Buch , Taschenbuch , CD und DVD )