Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Medien	Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum	31. Mai 1997
ISBN13	9780792399209
Verlag	Kluwer Academic Publishers
Seitenanzahl	167
Maße	203 × 254 × 11 mm · 535 g
Sprache	Englisch
Redakteur	Zorian, Yervant

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