Mems Reliability For Critical and Space Applications - Lawton - Bücher - SPIE Press - 9780819434777 - 31. August 1999
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Mems Reliability For Critical and Space Applications

Lawton

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Mems Reliability For Critical and Space Applications

A selection of scientific papers on the reliability of microelectromechanical systems (MEMS) for critical and space applications.


176 pages, illustrations

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 31. August 1999
ISBN13 9780819434777
Verlag SPIE Press
Seitenanzahl 176
Maße 393 g   (Geschätztes Gewicht)

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