Pattern Recognition and Machine Learning: Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems, held in Nagoya, Japan August 18-20, 1970 - King-sun Fu - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461575689 - 12. Dezember 2012
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Pattern Recognition and Machine Learning: Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems, held in Nagoya, Japan August 18-20, 1970 Softcover reprint of the original 1st ed. 1971 edition

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This book contains the Proceedings of the US-Japan Seminar on Learning Process in Control Systems. The papers cover a great variety of topics related to learning processes and systems, ranging from pattern recognition to systems identification, from learning control to biological modelling.


344 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 12. Dezember 2012
ISBN13 9781461575689
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 344
Maße 178 × 254 × 18 mm   ·   616 g
Sprache Englisch  
Redakteur Fu, King-Sun

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