Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing - Elie Maricau - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489986306 - 19. Juni 2015
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing 2013 edition

Elie Maricau

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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing 2013 edition

This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

198 pages, 16 black & white tables, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 19. Juni 2015
ISBN13 9781489986306
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 198
Maße 155 × 235 × 12 mm   ·   308 g

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