Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Bücher - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6. April 2021
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Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

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288 pages

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 6. April 2021
ISBN13 9781786306876
Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Seitenanzahl 288
Maße 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Sprache Englisch  

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