Field-Ion Microscopy - Crystals - R. Wagner - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642686894 - 7. Dezember 2011
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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

R. Wagner

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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.


134 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 7. Dezember 2011
ISBN13 9783642686894
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 118
Maße 170 × 244 × 7 mm   ·   226 g

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