Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - Bücher - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - 23. Oktober 2016
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

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269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 23. Oktober 2016
ISBN13 9788132234241
Verlag Springer, India, Private Ltd
Seitenanzahl 269
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g
Redakteur Mahapatra, Souvik