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Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition
Sivakumar Alagumalai
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Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition
Sivakumar Alagumalai
This book attempts to describe the underlying axioms of test theory, and, in particular, the concepts of objective measurement and the Rasch model, and then link theory to practice.
360 pages, biography
Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
Erscheinungsdatum | 28. Oktober 2010 |
ISBN13 | 9789048167852 |
Verlag | Springer |
Seitenanzahl | 360 |
Maße | 160 × 240 × 19 mm · 530 g |
Redakteur | Alagumalai, Sivakumar |
Redakteur | Curtis, David D. |
Redakteur | Hungi, Njora |
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