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VLSI Design and Test 1st ed. 2017 edition
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VLSI Design and Test
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions.
815 pages, 486 Illustrations, black and white; XXI, 815 p. 486 illus.
| Medien | Bücher Buch |
| Erscheinungsdatum | 22. Dezember 2017 |
| ISBN13 | 9789811074691 |
| Verlag | Springer Verlag, Singapore |
| Seitenanzahl | 815 |
| Maße | 150 × 220 × 20 mm · 1,15 kg |
| Redakteur | Dasgupta, Sudeb |
| Redakteur | Kaushik, Brajesh Kumar |
| Redakteur | Singh, Virendra |