Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Bücher - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12. August 2016
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Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 12. August 2016
ISBN13 9781848219366
Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Seitenanzahl 320
Maße 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

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