Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. Februar 2006
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

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There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 22. Februar 2006
ISBN13 9783540269090
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 378
Maße 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Sprache Deutsch  
Redakteur Bhushan, Bharat
Redakteur Fuchs, Harald

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