Freunden von diesem Artikel berichten:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
Preis
SFr. 124,49
exkl. MwSt.
Bestellware
Lieferdatum: ca. 31. Dez - 8. Jan 2026
Weihnachtsgeschenke können bis zum 31. Januar umgetauscht werden
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 22. Februar 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Verlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Seitenanzahl | 378 |
| Maße | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Sprache | Deutsch |
| Redakteur | Bhushan, Bharat |
| Redakteur | Fuchs, Harald |
Weitere Titel von Bharat Bhushan
Alle anzeigenAlle Titel von Bharat Bhushan ansehen ( u. a. Gebundenes Buch , Taschenbuch und Buch )